第三十二章 光谱仪(第 1/4 页)

    陈婉清将许秋引至一旁黑色的实验台，上面放有三台仪器，一台电脑。

    “这三台仪器，分别是紫外可见分光光度仪、荧光光谱仪、电化学工作站。”她一边介绍，一边指给许秋看。

    “今天主要用到前两个仪器，利用它们可以得到薄膜样品的光吸收光谱和荧光光谱，一般简称为uv-vis和pl。”

    陈婉清打开紫外可见分光光度仪和荧光光谱仪的电源，然后开启电脑中uv-vis的测试软件。

    等待了几秒钟，电脑显示与仪器连接成功，同时弹出控制页面。

    陈婉清边操作边讲解道：

    “uv-vis的测试原理是将各个波长的单色光分别穿透样品，在此过程中，部分光子被样品吸收，然后测试入射光和出射光的强度，通过计算便能得到样品对该波长光的透过率。

    我们能测试的范围大致在200-1000纳米。

    实验步骤也很简单。

    第一步，启动光源；

    第二步，测试空白样品，也就是玻璃片，把它贴在样品台上，点击‘blank’按钮；

    第三步，测试样品，同样也贴在样品台上，点击‘sample’按钮，软件会自动测试并扣除背景的。

    这套仪器也可以用来测试溶液样品，不过我们通常用它测薄膜。”

    测试速度很快，电脑屏幕上出现了样品的光吸收光谱，主要吸收峰的位置在400-650纳米处。

    许秋现在还不懂解谱，便问道：“学姐，怎么样，猜想正确吗。”

    “唔……”陈婉清考虑了一会儿，说道：“从这张图谱上来看，相比于正常旋涂条件下的样品，现在它吸收峰的半峰宽更小。如果它的光吸收系数也同时提高的话，倒是可以解释为聚合物结晶性的增加，但是现在不知道膜厚，所以无法计算光吸收系数。”

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