第三十二章 光谱仪(第 2/4 页)

    “那膜厚怎么测呢？”许秋道。

    “我们旋涂的有机薄膜，厚度一般在100纳米左右，测它们厚度一般用椭偏仪或者用sem测断面。

    前者需要拟合参数，后者则需要在液氮冷却的条件下掰断基片，再测试断面的sem，总之都不是很方便，而且就算测出来，计算出光吸收系数，这个数据也只能作为佐证，因为它不够直观。

    要想得到更直观的证据，还是需要去魔都同步辐射中心，对样品做掠入式x射线衍射实验。”

    陈婉清又将另外五个样品测完，保存了数据，说道：

    “荧光光谱仪开启后需要稍微预热一会儿，现在应该差不多了。”

    她打开荧光光谱仪的仪器盖，将里面的样品支架取出，贴上其中一片样品后放回，接着道：

    “它的原理是用单色光照射样品表面，样品分子吸收光子的能量，发出荧光，仪器收集其荧光信号。

    根据能量守恒原理，单光子激发下，荧光的能量小于激发光的能量，也就是荧光的波长比激发光波长更长。

    仪器有两种模式，一种是给定激发光的波长，收集样品在仪器检测范围内全波长的荧光信号；

    另一种是给定一个激发光波长的范围，收集给定波长的样品荧光信号。

    我们使用的是第一种模式，通常情况下，激发光的波长选择样品光吸收光谱中峰值对应的波长。

    所以一般要先测试uv-vis，再测试pl。”

    陈婉清打开pl测试软件，开始设置参数：激发光波长550纳米，荧光检测范围570到850纳米。

    “这个不需要空白基片，直接测量就好。极限测试范围大致是300-850纳米。

    操作就很简单，把样品放进去，旋转样品台使样品与激发光源呈60度夹角，然后盖好盖子，启动测试就可以了。”

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