第0098章 正刃型位错理论第一阶段，突破！(第 2/3 页)

    “材料分析做过了？”

    慕景池开口问着的时候，自己也亲自下场开始做材料分析。

    “已经做过了，x射线衍射、电子扫描电镜及透射电镜材料分析方法，我们都做了。”

    “根据其中所得的数据建立模型，所得出的模型和位错理论分析所成的数据模型相匹配。”

    回到熟悉的实验环境下，眼镜研究生恢复了镇定。先是推了推自己鼻梁上的眼镜，然后语速极快的答道。

    慕景池听着眼镜研究生的话，点点头，视线却是落在电脑屏幕里面的分析系统数据上。

    从上到下，从左到右，慕景池看得很仔细，同时运用近期所学到的数学、物理和2100年材料力学进行分析。

    他的脸上已经开始呈现出喜悦的表情。

    不过，为了保险，慕景池亲自来一遍材料分析。

    计算机上配备有专门的x射线衍射分析操作系统，其是一套内容丰富的并可随时扩展修改的粉末衍射仪仪操作与衍射分析实用软件系统。

    其由两大功能组块构成：衍射仪控制操作模块，其主要用来控制衍射仪的运行，完成衍射数据的采集等；衍射数据处理分析模块由一些常用的衍射图处理程序集成。

    这些程序可以进行x射线衍射物相定性分析、x射线衍射物相定量分析、峰处理、晶粒大小测量、精密晶格常数的测定和结晶度的测量等。

    当然，这仅仅只是x射线衍射分析。

    后面还需要做透射电镜的电子衍射和衍射衬度分析，以及背散射电子衍射分析。

    x射线衍射分析虽然可以获得材料晶体结构及其取向的宏观统计信息，但不能将这些信息与材料的微观组织形貌相对应。

    而透射电镜将电子衍射和衍射衬度分析相配合，可以实现材料微观组织形貌观察和晶体结构及取向分析的微区对应，但获取的信息往往是微区的、局部的，难以进行具有宏观意义的统计分析。

    背散射电子衍射技术兼备了x射线衍射统计分析和透镜电镜电子衍射微区分析的特点，是x射线衍射和电子衍射晶体结构和晶体取向分析的补充。

    三者相互结合。

    便可得到海量的相关数据。

    这是属于材料分析的数据，然后以这些数据为基础进行加工，得到相关图示和模型，是为表征。

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